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Nicomp 380 Z3000 Basic zeta电位及纳米粒度仪
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Nicomp 380 Z3000 Basic 纳米粒度仪及Zeta电位分
Scattering, DELS) 检测范围:粒径范围:0.3nm-10.0μmZETA电位: +/- 500mV Nicomp 380 Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典
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Nicomp 380 Z3000 纳米粒度及ZETA电位分析仪
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Nicomp 380 Z3000 Standard 纳米粒径与Zeta电位分析仪
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Nicomp 380 Z3000 Plus 纳米粒径与Zeta电位分析仪
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Nicomp 380 Z3000 Plus 纳米粒径与Zeta电位分析仪
Nicomp 380 系列纳米激光粒度仪 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 基本信息仪器型号:Z3000 Plus 工作原理: 粒度分布:动态光散射(Dynamic Light
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Nicomp 380 Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
(步长0.9°)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析
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美国PSS纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000
纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射
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Nicomp 380 ZLS&S 亚微米粒径电位检测仪
体系的稳定性分析具有独特优势,其优异的解析度及重现性是其他同类产品无可比拟的。 Nicomp 380 ZLS通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的
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Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪 参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰
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